全站仪测角

第1个问题：
随着对光栅盘的应用、以及软件的内插和残差计算及消除技术的改进，全站仪的测角系统精度越来越高，误差越来越小。对于要求不高等级测量，可不用多测回测量；但对于高等级的，为了取均值以弱化竖轴的隙动对水平测角系统的影响，多测回还是必要的。

第2个问题：
现在全站仪测角系统中应用最多的有增量编码盘和绝对式编码光栅盘(当然还有磁碟式，二极管模拟式等)。盘多数是玻璃材料或者树脂材料，能根据要求在特定位置透光。增量式盘有光栅主盘和辐盘组成，绝对式的只有单盘组成。为了透光，所有的盘上都有特定的刻划线(随着工艺改进现在多数不用刻划工艺，直接用化学涂层间隔透光狭缝)，刻划或涂层间隔是有误差的。但现在全站仪的测角系统是个复杂的较智能的系统，多数都可用软件控制或者自动纠错。

但要说明的是，对于增量式仪器尽管对仪器的防水防尘等级要求不高，但盘灰尘多的情况下会引起信号紊乱。对于绝对式的要求防水防尘等级高，不允许灰尘进入盘表面。这样容易造成误读。

非常有必要多测回，可以减小瞄准前后视误差。
每个测回测量时，大气折光的影响都不一样，所以，要求精度高的测角一定要多测回，以求取平均值。
当然了，要求不高的测角，多测回也没用。
四等测角，J2仪器规程要求9个测回，三等要求12个测回，你测一个测回一定不可以。

是有必要，可以减少误差。但是目前全站仪精度都比较高，所以，一般来说也没有谁去搞多测回

理论上是有必要的，实际中好像很少会有多测回的

一般好像都是一个测回就拉倒了~~~~~