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来源：百度知道 编辑：UC知道 时间：2024/06/24 15:58:15
XRD analyses were performed on a Siemens X-ray diffractometer using the CuKα radiation (λ=0.157 nm) operated under 300 W. XPS analyses were carried out on a VG ESCA3 MKII system using the AlKα line at 1486.6 eV. Photoelectrons were analysed by means of a hemispherical analyser. Spectra were recorded with an energy pass of 20 eV under UHV conditions. SEM investigations were performed on a JEOL JSM 840 electron microscope equipped with a traker TN5500 X-ray detector.

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X射线衍射分析进行的西门子X射线衍射仪使用CuK ？ ？辐射（ ？ ？ = 0.157 nm ）的运作下300 XPS分析美国进行了一个卷组ESCA3 MKII系统使用碱？ ？线1486.6 eV的。光电子分析通过半球分析仪。谱录的能源通过20 eV的超高真空的条件下。调查进行了扫描电镜对JEOL JSM 840电子显微镜配备traker TN5500 X射线探测器。
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X射线衍射分析进行的西门子X射线衍射仪使用CuKα辐射（ λ = 0.157 nm ）的运作下300 XPS分析美国进行了一个卷组ESCA3 MKII系统使用AlKα线1486.6 eV的。光电子分析通过半球分析仪。谱录的能源通过20 eV的超高真空的条件下。调查进行了扫描电镜对JEOL JSM 840电子显微镜配备traker TN5500 X射线探测器。
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