模拟芯片测试和数字芯片测试哪个更有前途

数字测试一般测试IC内部数字电路的逻辑功能,在测试其功能时,一般通过DFT给出一定故障覆盖的功能pattern.这些pattern一般都是数字电路的逻辑功能校验,只要运行此pattern看响应是否对就可以了.
模拟测试主要检测IC内部模拟电路的功能,它不进行直接的逻辑值比较,ADC需要建立连续的模拟波形再抓获经过ADC后的码字,DAC需要将产生的模拟电压进行分码,需要通过需要将测到的实际电压值进行转换,其中的计算一般都是通过FFT算法实现的.具体的很细 可以看教参.