半导体材料性质表征主要手段有哪些，请写出四种以上，并分别简述其表征材料的何种性质？

四探针技术——测量电阻率ρ=1/σ和载流子浓度。
三探针技术——测量击穿电压，并得到电阻率。
Hall效应技术——测量Hall系数R，并得到迁移率（μ=Rσ）。
MOS电容-电压技术——测量MOS中的界面态和电荷等。
光电导衰退技术——测量少数载流子寿命。