用迈克尔逊干涉仪测量介质薄片厚度

①以钠光为光源调出等倾干涉条纹。
②移动M2镜，使视场中心的视见度最小，记录M2镜的位置；在反射镜前平行地放置介质薄片，继续移动M2镜，使视场中心的视见度又为最小，再记录M2镜位置，连续测出6个视见度最小时M2镜位置。
③用逐差法求光程差Δd的平均值，再除以以此种介质的折射率，就是厚度了。