在测量半导体材料电阻率时,为什么要求待测面平整、粗糙

来源：百度知道 编辑：UC知道 时间：2024/06/17 06:10:07

在采用四探针法测量电阻率时，金属探针不能与半导体形成整流接触，故打毛表面以破坏肖特基势垒的作用。
只有表面平整，才能较好地满足四探针技术的要求，以使测量准确。